Каталог оборудования Оптические датчики — датчики, системы безопасности, машинное зрение
Найти комплектующие по артиклу или наименованию изделия
Узнать цены и наличие
Точные оптические датчики для безошибочного контроля и обнаружения — ваш надежный помощник в автоматизации.
ET28.3/2N-200-M12
Энергетический диффузный датчик ET28.3/2N-200-M12 компании Leuze предназначен для бесконтактного обнаружения объектов на различных поверхностях. Благодаря
ET23/4X-M8
Энергетический диффузный датчик ET23/4X-M8 компании Leuze предназначен для бесконтактного обнаружения объектов на различных производственных линиях.
ET23/2X-M8
Энергетический диффузный датчик ET23/2X-M8 компании Leuze предназначен для бесконтактного обнаружения объектов на различных производственных линиях. Он
DRT25C.3/LT-M8
Датчик DRT25C.3/LT-M8 компании Leuze с динамической настройкой на задний фон предназначен для точного обнаружения объектов в сложных условиях освещения и
DRT25C.3/LT-M12
Датчик DRT25C.3/LT-M12 компании Leuze с динамической настройкой на задний фон предназначен для точного обнаружения объектов в сложных условиях освещения и
DRT25C.3/LT-200-M12
Датчик DRT25C.3/LT-200-M12 компании Leuze с динамической настройкой на задний фон предназначен для точного обнаружения объектов в сложных условиях
DRT25C.3/LT
Датчик с динамической настройкой на задний фон DRT25C.3/LT компании Leuze предназначен для точного обнаружения объектов в сложных условиях освещения и
DRT25C.3/L6-M8
Датчик DRT25C.3/L6-M8 компании Leuze с динамической настройкой на задний фон предназначен для точного обнаружения объектов в сложных условиях освещения и
DRT25C.3/L6-M12
Датчик DRT25C.3/L6-M12 компании Leuze с динамической настройкой на задний фон предназначен для точного обнаружения объектов в сложных условиях
DRT25C.3/L6-200-M12
Датчик DRT25C.3/L6-200-M12 компании Leuze с динамической настройкой на задний фон предназначен для точного обнаружения объектов в сложных условиях
DRT25C.3/L6
Датчик DRT25C.3/L6 компании Leuze с динамической настройкой на задний фон предназначен для точного обнаружения объектов в сложных условиях освещения и на